SÉNARMONT Kompensator Technik

SÉNARMONT Kompensator mit rotierendem Analysator in Seitenansicht mit Angabe der Polarisationszustände des Lichtstrahls bezogen auf den Messkristall

Linear polarisiertes Licht wird in den Kristall so eingestrahlt, dass beide Schwingungsrichtungen im doppelbrechenden Kristall gleichstark angeregt werden (diagonal bezüglich der Schnittellipse). Aufgrund der unterschiedlichen Fortpflanzungsgeschwindigkeiten des Lichtes in den beiden Schwingungsrichtungen verlässt elliptisch polarisiertes Licht den Kristall. Die nachfolgende - Platte erzeugt durch eine Phasenverschiebung von wieder linear polarisiertes Licht, das bezüglich der ursprünglichen diagonalen Polarisationsrichtung um /2 verdreht ist. Dies entspricht einer Phasenverschiebung von , die direkt mit einem rotierenden Analysator über Lock-In Technik gemessen wird: Der Chopper mit Gabellichtschranke liefert dazu das Referenzsignal bezüglich dem die Phasenlage des Messsignals der PIN-Diode mit dem Lock-In bestimmt wird.

Der Gangunterschied lässt sich hierbei aber nur bis auf ein ganzzahliges Vielfaches der Wellenlänge bestimmen:

für den Temperaturverlauf der Doppelbrechung ergibt sich daraus:

wobei der Wert für den Bezugspunkt der Doppelbrechung bei T_o aus den Goniometermessungen gewonnen wird.

Diese Messmethode ist sehr gut für doppelbrechende Kristalle geeignet, deren Schnittellipse nicht die Lage bezüglich des Präparats ändert, so dass quasi kontinuierlich gemessen werden kann, ohne den Polarisator und die -Platte permanent neu justieren zu müssen. Wird dagegen z.B. ein monokliner Kristall in Richtung der 2- zähligen Achse durchstrahlt, so kommt es zu einer Verdrehung der Schnittellipse um die 2-zählige Achse bei Temperaturänderung. Hierfür ist das Ellipsometer nach WOOD und GLAZER[11] besser geeignet.